MAT261质谱计二次电子倍增器歧视效应研究和计数法建立

作者：徐江; 李志明; 朱凤蓉; 张佳梅; 翟利华; 万可友; 周国庆; 王伟; 邓虎; 徐宗浩; 王群书

来源：质谱学报, 2011, (02): 95-99.

• 计数法
• 二次电子倍增器
• 质量歧视效应
• 强度歧视效应 count mode
• secondary electron multiplier(SEM)
• mass discrimination effect
• ions intensity-dependent discrimination effect

热表面电离质谱计(TIMS)MAT261在采用二次电子倍增器(SEM)接收时,SEM积分模拟模式的测量存在质量歧视效应和强度歧视效应。本研究测量了其质量歧视校正因子,建立了强度歧视效应基本可以忽略的测量方法。为实现弱信号的准确测量,建立SEM离子计数测量模式。基于SEM离子计数测量技术,应用钚标样比较SEM积分模拟模式测量和离子计数模式测量的结果。在控制离子流强度的条件下,两种方法的测量结果与标样标称值在不确定度范围内符合。

• 出版日期2011
• 单位西北核技术研究所