科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
<正> 二十多年来,人们对电子束干涉现象开展了大量的实验和理论研究,随之也开拓了一些新的研究领域。但迄今在热发射式电子枪中,所获得的干涉条纹最好的结果为300条。尽管1979年,Tonomura等人在专用的场发射电子显微镜中获得了3000根条纹,然而由于该装置技术条件要求很高,价格昂贵,致使许多先进的实验室也不能用这种方式工作。
- 出版日期1985
- 单位中国科学院上海光学精密机械研究所; 中心实验室
<正> 二十多年来,人们对电子束干涉现象开展了大量的实验和理论研究,随之也开拓了一些新的研究领域。但迄今在热发射式电子枪中,所获得的干涉条纹最好的结果为300条。尽管1979年,Tonomura等人在专用的场发射电子显微镜中获得了3000根条纹,然而由于该装置技术条件要求很高,价格昂贵,致使许多先进的实验室也不能用这种方式工作。
