摘要
理论上研究了带有薄层的板的超声谐振频率随薄层的厚度或物性改变而发生变化的规律,研究结果表明,在0≤ω<c2/d2 arctan(Z1/Z2)范围内,板的半波谐振频率因薄层厚度的增加向低频飘移;在一阶近似条件下,飘移量的大小正比于薄层和板的单位面积质量之比。在此基础上,提出了利用板的谐振频率飘移量进行板底薄层厚度检测的方法,并对6.24 mm厚铝板下不同厚度(54-324 μm)的薄层进行了厚度检测,实验得到的厚度相对误差在6%以下。实验结果进一步证实了该规律是正确的,以及基于该规律的板底薄层检测方法是可行的。
- 出版日期2005
- 单位中国科学院声学研究所