噪声是影响Duffing振子相态跃迁的重要因素,其结果导致Duffing检测可靠性降低,从而影响其在实际工程中的应用。为此,提出了一种含强非线性阻尼项的广义Van der Pol振子相态跃迁模型,从理论上证明了其用于弱信号检测的可行性。与经典Duffing振子相比,新模型具有更强的状态稳定性和噪声免疫性。仿真实验表明,基于新模型的检测方法可以有效降低噪声对相态跃迁的影响,改善弱信号检测的可靠性。
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