Wiener过程性能退化电子产品的剩余寿命预测方法

作者：王书锋; 王友仁; 姜媛媛

来源：电子测量技术, 2014, (05): 17-20+41.

DOI：10.19651/j.cnki.emt.2014.05.005

• 剩余寿命预测
• Wiener过程
• 自助法
• 贝叶斯方法
• 电子产品 residual lifetime prediction
• Wiener process
• bootstrap
• Bayesian method
• electronic product

针对Wiener过程性能退化电子产品剩余寿命预测中存在先验信息获取困难、预测不能有效体现个体差异性的问题,研究一种基于自助法的电子产品剩余寿命预测方法。首先,基于Wiener过程建立性能退化模型;其次,利用自助法获取先验数据,并以此数据确定退化模型参数的先验分布;最后,由贝叶斯方法融合退化数据确定退化模型参数的后验估计,进而由剩余寿命分布确定产品的剩余寿命。该方法能够得到具有个体差异性的预测结果,适合于单个电子产品的在线剩余寿命预测,并通过对GaAs激光器的实例分析验证了该方法的有效性。

• 出版日期2014
• 单位南京航空航天大学