提出一种在太赫兹波段检测物质琼斯矩阵的方法。利用太赫兹面阵成像系统对会聚太赫兹光场的纵向分量进行相干测量，由此提取太赫兹光场的偏振信息，并通过分别测量未放置样品、放置原始样品和样品旋转90°后的透射太赫兹光场偏振信息，提取样品的琼斯矩阵元素。利用此方法，分别对不同角度的太赫兹偏振片和波片进行了实验测量，并与理论结果进行比较，发现具有很好的一致性。研究结果说明，所提方法对表征物质在太赫兹波段的各向异性特征具有很好的实用性。
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