在预先制备的Au纳米粒子溶液中还原SnCl2合成AuSn纳米粒子,然后采用阶段性升温氧化获得Au@SnO2核/壳纳米粒子。采用XRD和TEM对合成的纳米粒子进行表征。在200℃和300℃分别测量Au@SnO2纳米粒子薄膜电阻随氧压变化的特性,结果表明,300℃条件下,当氧压为1.013×105Pa时Au@SnO2薄膜电阻是初始状态的13.75倍;200℃条件下,当氧压为1.013×105Pa时Au@SnO2薄膜电阻是初始状态的3.67倍。
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