密集阅读器环境下RFID系统识别性能研究

作者：王宇; 佘开; 唐志军

来源：现代电子技术, 2014, (09): 43-46.

DOI：10.16652/j.issn.1004-373x.2014.09.036

• 射频识别
• 同信道干扰
• 多天线分集
• 空口参数 radio frequency identification
• co-channel interference
• multi-antenna diversity
• air interface parameter

密集阅读器环境下的同信道干扰将显著降低阅读器识别性能,基于Nakagami-m多径信道模型和最大比合并(MRC)算法,推导了多天线分集RFID系统反向识别距离的数学期望值闭合表达式,并遵循ISO18000-6C标准的空口参数进行数值仿真,验证了推导的结论。

• 出版日期2014
• 单位湖南科技大学