摘要

提出了一种在小型液晶屏盒内缺陷检测中消除纹理影响的方法,并成功制作了国内首台小型液晶屏盒内缺陷自动光学检测仪。本方法的基本原理是:采集标准液晶屏图像,利用其图像数据建立补偿矩阵,在检测的预处理过程中使用补偿矩阵消除纹理。这种方法有效解决了液晶屏纹理影响检测结果的难题。理论分析及现场实验结果表明,该方法达到消除液晶屏纹理的同时完整保留缺陷的目的,使液晶屏盒内缺陷自动检测的准确性大大提高。