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摘要
嵌段共聚物导向自组装作为一种自下而上的图案化工艺，受到工业界和学术界的广泛关注.然而，导向自组装中缺陷率与分子参数之间的关系研究尚不清晰.本文工作基于模块化合成策略，利用迭代指数增长法并结合巯基-双键的点击反应成功制备了高χ低N的单一分子量含氟聚酯嵌段共聚物(o LAnFPOSS).单一分子量特征可以排除多分散性对自组装行为的影响.本体自组装研究表明聚酯嵌段和含氟嵌段具有强相分离驱动力，可以形成特征尺寸小于10 nm的六方柱状相结构(HEX).在薄膜自组装中，嵌段共聚物经过简单的热退火可以在硅片表面形成平行基底排布的柱状纳米图案.此外，通过对比研究不同链长单一分子量嵌段共聚物的薄膜组装行为，发现随着嵌段共聚物链长的增长薄膜组装图形缺陷率明显下降，初步揭示了薄膜自组装过程中缺陷形成对嵌段共聚物链长的依赖性.
