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X-ray photoelectron spectroscopy study of the chemical interaction at the Pd/SiC interface (vol 108, 093702, 2010)

作者：Zhang Y*; Gajjala G; Hofmann T; Weinhardt L; Baer M; Heske C; Seelmann Eggebert M; Meisen P
来源：Journal of Applied Physics, 2011, 109(2): 029902.
DOI：10.1063/1.3532951

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更新时间：2018-08-02 13:45