薄膜X射线测厚仪

作者：靳其兵; 江晶

来源：仪表技术与传感器, 2007, (05): 18-19.

• 测厚仪
• X射线
• 薄膜

介绍了以西门子PLC(可编程控制器)用于薄膜测厚的全自动往复式X射线测厚仪的研制,介绍了该测厚仪的硬件构成和测厚的工作原理。该装置已成功应用在双向拉伸聚丙烯薄膜生产线上。

• 出版日期2007-5-15
• 单位北京化工大学