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摘要
报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化铈中１１个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了氧化铈对测定元素所产生的谱干扰和基体效应，考察了Ｔ１、Ｇａ、Ｃｓ、Ｉｎ等内标补偿基体抑制效应的作用。用此方法测定１１个稀土杂质的检出限为０．０１７－０．４０ｎｇ／ｍＬ，精密度（ＲＳＤ）为２．６％－８．２％。加标回收率为９６．７％－１０７．９％。分析时，不需要预分离和富集，酸溶后可以直接测定。
- 出版日期1996
- 单位北京有色金属研究总院
报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化铈中１１个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了氧化铈对测定元素所产生的谱干扰和基体效应，考察了Ｔ１、Ｇａ、Ｃｓ、Ｉｎ等内标补偿基体抑制效应的作用。用此方法测定１１个稀土杂质的检出限为０．０１７－０．４０ｎｇ／ｍＬ，精密度（ＲＳＤ）为２．６％－８．２％。加标回收率为９６．７％－１０７．９％。分析时，不需要预分离和富集，酸溶后可以直接测定。
