摘要

通过内耗技术在金属晶体原子缺陷方面的应用研究,阐述了因晶体中原子缺陷的存在而导致温度谱上产生内耗峰.Snoek峰和Zener峰是两个典型的由原子缺陷引起的弛豫峰,晶体中原子缺陷含量和结构的不同会引起内耗峰的特征不同,从而可利用内耗峰的特征和参数来探测原子缺陷的结构甚至含量.

  • 出版日期2010-6-15
  • 单位苏州市职业大学